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TOF-SIMS를 이용한 표면분석
Surface Analysis by Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry(TOF-SIMS)
분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1997, v.10 no.5, pp.1087-1104
이연희,
&
한승희.
(1997). TOF-SIMS를 이용한 표면분석. 분석과학, 10(5), 1087-1104.
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