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  • 한국과학기술정보연구원(KISTI) 서울분원 대회의실(별관 3층)
  • 2024년 07월 03일(수) 13:30
 

  • P-ISSN1225-0163
  • E-ISSN2288-8985
  • SCOPUS, ESCI, KCI

논문 상세

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  • P-ISSN 1225-0163
  • E-ISSN 2288-8985

TOF-SIMS를 이용한 표면분석

Surface Analysis by Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry(TOF-SIMS)

분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1997, v.10 no.5, pp.1087-1104
이연희
한승희
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분석과학