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  • 한국과학기술정보연구원(KISTI) 서울분원 대회의실(별관 3층)
  • 2024년 07월 03일(수) 13:30
 

  • P-ISSN1225-0163
  • E-ISSN2288-8985
  • SCOPUS, ESCI, KCI

논문 상세

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  • P-ISSN 1225-0163
  • E-ISSN 2288-8985

직류전압강하법에 의한 균열길이 측정에 미치는 도선의 위치 및 보정방법의 영향에 관한 연구

Studies on effects of calibration methods and current lead position on the direct current potential drop method for crack length measurement

분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1997, v.10 no.4, pp.300-306
조종춘
김인수
김상식
최승주
허보영
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초록

직류전압강하법을 이용한 균열길이 측정방법은 입출력 도선의 위치 및 보정방법에 큰 영향을 받는다. 본 실험에서는 CT 시편을 실제 시편보다 9배 크기로 제작하여, 입출력 도선의 위치, 열 유도 EMF 및 기준전압의 위치가 기존의 보정곡선에 미치는 영향을 연구하였다. 연구 결과 입력전류 도선의 위치가 하중선에 위치할 때, Hicks-Pickard 관계식이 매우 정확하게 a/W와 V/Vo간의 관계를 나타내었으며, 이 때 Vo값을 a/W

keywords
DCPD method, thermal EMF, reference voltage

Abstract

The effective resolution of the direct current potential drop (DCPD) method for crack length determination is strongly affected by a number of factors including wire locations and calibration method. In the present study, the effects of wire locations, thermal EMF and reference probe locations on the accuracy of calibration methods, including Hicks-Pickard equation and Johnson's equation, were examined with the CT specimens which were nine times larger than the standard specimen. In light of experimental results, it was found that Hicks-Pickard equation can accurately represent the a/W-V/Vo relationship when current input wire is located at the load line. It was also found that the accuracy of DCPD method can be greatly improved with the thermal EMF calibration and the use of Vo value at a/W

keywords
DCPD method, thermal EMF, reference voltage


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