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투과전자현미경을 이용한 GaAs의 면결함 구조 연구
Transmission Electron Microscopy of GaAs Planar Defects
분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1992, v.5 no.1, pp.121-126
조남희,
홍국선,
&
Cater,
C.
(1992). 투과전자현미경을 이용한 GaAs의 면결함 구조 연구. 분석과학, 5(1), 121-126.
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초록
GaAs <TEX>${\Sigma}
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- Transmission electron microscopy, GaAs, Planar defects
Abstract
Transmission electron microscopy was used to investigate the structure of GaAs <TEX>${\Sigma}
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