- P-ISSN 1225-0163
- E-ISSN 2288-8985
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Scanning Tunneling Microscope와 Atomic Force Microscope의 원리와 응용
Principle and Applications of Atomic Force Microscope & Scanning Tunneling Microscope
분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1996, v.9 no.3, pp.1069-1075
김풍작.
(1996). Scanning Tunneling Microscope와 Atomic Force Microscope의 원리와 응용. 분석과학, 9(3), 1069-1075.
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