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중성자 방사화분석법에의한 반도체 특성조사-I (원리 및 웨이퍼 벌크 분석)
Characterization of Semiconductor Using Neutron Activation Analysis-I (Its Principle and Wafer Bulk Analysis)
분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1998, v.11 no.4, pp.1045-1056
김낙배.
(1998). 중성자 방사화분석법에의한 반도체 특성조사-I (원리 및 웨이퍼 벌크 분석). 분석과학, 11(4), 1045-1056.
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