- P-ISSN 1225-0163
- E-ISSN 2288-8985
- P-ISSN1225-0163
- E-ISSN2288-8985
- SCOPUS, ESCI, KCI
논문 상세
Home > 논문 상세
중성자 방사화분석법에 의한 반도체 특성조사-II - 반도체 제조공정 및 표면 적층분석 -
Characterization of Semiconductor Using Neutron Activation Analysis-II - Manufacturing Process and Surface Depth Profile Analysis -
분석과학 / Analytical Science and Technology, (P)1225-0163; (E)2288-8985
1998, v.11 no.6, pp.1065-1074
김낙배.
(1998). 중성자 방사화분석법에 의한 반도체 특성조사-II - 반도체 제조공정 및 표면 적층분석 -. , 11(6), 1065-1074.
- 0다운로드 수
- 317조회수
Abstract
- keywords
- 0다운로드 수
- 317조회수
- 0KCI 피인용수
- 0WOS 피인용수
권호 내 다른 논문
- 해설 : 중성자 방사화분석법에 의한 반도체 특성조사 - 2 - 반도체 제조공정 및 표면 적층분석 -
- 물-메탄올 혼합용액과 계면활성제 용액에서 나프탈렌 나트륨 유도체들의 소수성 상호작용
- PWR 사용후핵연료 중 Zr 및 Zr 동위원소 정량을 위한 분리 및 정제
- Dansyl Cadaverine을 이용한 담즙산류의 고감도 형광측정법
- 역상 고속 액체크로마토그래피를 이용한 인삼 사포닌의 분석
- 화학 : 역상 고속 액체크로마토그래피를 이용한 인삼 사포닌의 분석
- 여러자리 질소-산소계 시프염기 리간드와 전이금속착물의 합성 및 전기화학적 특성
- FT-NIR를 이용한 Naphtha Cracking 공정중 NaOH, <TEX>$Na_2CO_3$</TEX>와 <TEX>$Na_2S$</TEX> 정량분석
- 킬레이트 흡착제(2,2'-Iminodibenzoic acid-가교 chitosan)의 합성과 Pb(II), Cu(II), Cd(II)의 흡착력에 관한 연구
- Schiff Base Co(II) 착물이 변성된 유리질 탄소전극에서 산소 환원의 전기촉매 효과
- 청정분산제의 적외선 분광스펙트럼 비교를 통한 자동차용 휘발유 제조사의 판별
- 화학발광고속액체크로마토그래피법에 대한 표준물질인 포스파티딜콜린 하이드로퍼옥사이드의 조제
- 상수리 나무중 Polyphenol 성분들의 분포에 관한 연구
- 질산불용성 합금의 EPMA분석
- Suppressed 이온 크로마토그래피에서 과량의 양이온이 낮은 농도의 음이온 분석에 미치는 영향
- 유도결합 플라스마-질량분석법과 고체-액체 추출법을 이용한 해수중 미량금속의 분석에 관한 연구
- 중성자 방사화분석법에 의한 반도체 특성조사-II - 반도체 제조공정 및 표면 적층분석 -
- more
추천 논문
- Anti-inflammatory copper nanoparticles for wound medication
- Elemental analysis of nail clippings retrieved from farmers using X-ray fluorescence spectrometry
- Validation and application of a headspace-gas chromatography-mass spectrometric method for determination of toluene and 2-butanol in urine
- Estimation of uncertainty in quantifying urinary lithium via the standard addition method using ion chromatography
- Photostability considerations in preclinical studies: Mini-Review
학술지 홈페이지 이용 환경은 크롬 브라우저 사용을 권장합니다.